磁粉探傷（Magneticparticleinspection，MPI）的操作方法多種多樣，而通常來(lái)說(shuō)這些方法都要符合操作測(cè)試規(guī)范。在許多情況下，這些規(guī)范都不會(huì)太過(guò)死板，無(wú)損檢測(cè)人員在選擇執(zhí)行檢測(cè)方法時(shí)都會(huì)保留一定的可能性。但是，我們要明白并不是所有的方法都能達(dá)到相同的效果。正如下文所解釋的那樣，這些方法不僅在易用性和執(zhí)行時(shí)間上有差異，在對(duì)所能提供的測(cè)試結(jié)果細(xì)節(jié)的水平上也存在著一定的差距。
對(duì)于任何負(fù)責(zé)產(chǎn)品質(zhì)量的人員來(lái)說(shuō)，安全性和可靠性是其首要考慮的因素，那么如果在磁粉探傷方法上要進(jìn)行取舍時(shí)，就一定會(huì)選擇能夠?qū)Ξa(chǎn)品提供可靠檢測(cè)結(jié)果的操作方法。
當(dāng)購(gòu)買檢測(cè)材料時(shí)，你可能想要更進(jìn)一步了解到：
在測(cè)試工件上用于創(chuàng)建磁場(chǎng)的電流類型
用于執(zhí)行測(cè)試的介質(zhì)或顆粒類型
在本文中，我們對(duì)同一待測(cè)工件執(zhí)行了三種不同的磁粉探傷方法，同時(shí)對(duì)這三種方法進(jìn)行比較。
這三種方法都滿足基本規(guī)范要求并且能夠?qū)嶋H操作。它們分別是：
1，交流電（AC）磁軛可見光干式磁粉探傷
2，在一個(gè)水平實(shí)驗(yàn)室裝置上采用全波直流（FWDC）可見光干式磁粉探傷
3，在一個(gè)水平實(shí)驗(yàn)室裝置上采用全波直流（FWDC）熒光濕式磁粉探傷
由于在干式磁粉探傷法中使用的是散粉，因此相較于濕式熒光磁粉探傷，這個(gè)過(guò)程的工作量更大且所需時(shí)間更長(zhǎng)。更重要的是，干式磁粉探傷法也沒有熒光磁粉探傷法敏感。
下面的例子是按照我們?cè)趯?shí)驗(yàn)室處理的實(shí)際順序給出的。按照要求我們對(duì)同一個(gè)工件使用以上提到的兩種不同的干式磁粉技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)。雖然要求使用干式磁粉是很常見的，但是基于同一個(gè)工件使用兩種不同的干式磁粉探傷法進(jìn)行檢測(cè)的要求則不太常見。檢測(cè)結(jié)果使我們感到驚訝，隨后我們決定結(jié)合FWDC實(shí)驗(yàn)室裝置，使用熒光濕式磁粉技術(shù)對(duì)同一工件進(jìn)行檢測(cè)，結(jié)束后進(jìn)行結(jié)果的比較。
交流電（AC）磁軛可見光干式磁粉探傷
初次檢測(cè)的結(jié)果是：僅在測(cè)試工件的一個(gè)鍛造區(qū)域發(fā)現(xiàn)了一個(gè)較為明顯的表面缺陷（鍛造圈）。事實(shí)上這些缺陷較為嚴(yán)重，使用肉眼進(jìn)行目視檢測(cè)就能夠發(fā)現(xiàn)。在工件的加工區(qū)域我們沒有發(fā)現(xiàn)磁痕現(xiàn)象。
這種檢測(cè)方式較為特殊，平時(shí)并不常用，所以我們首先關(guān)心的是保護(hù)熒光裝置，并盡可能保護(hù)可見顆粒免受污染。
說(shuō)實(shí)話，我們并沒有預(yù)見到兩種方法在檢測(cè)結(jié)果上會(huì)有明顯的差異。我們確信之前觀察到的表面缺陷（鍛造圈）會(huì)再次被檢測(cè)到，除此之外我們還有了新發(fā)現(xiàn)：與鍛造區(qū)不同，工件的加工區(qū)域表現(xiàn)出了很好的質(zhì)量，而更出乎意料的是（這也是進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)工作的一種樂趣），我們居然在整個(gè)測(cè)試工件的加工區(qū)域發(fā)現(xiàn)了夾雜物的多重線性痕跡。使用AC磁軛可見光干式磁粉技術(shù)并沒有發(fā)現(xiàn)這些痕跡，這可能對(duì)工件會(huì)存在潛在的傷害，具體主要取決于其應(yīng)用領(lǐng)域。
我們的結(jié)論是：由于在實(shí)驗(yàn)室裝置上使用了不同的電流，從而發(fā)現(xiàn)了更詳細(xì)的檢測(cè)結(jié)果，這是因?yàn)镈C電流比AC電流的穿透深度更深。盡管AC電流可以成功地檢測(cè)出表面缺陷，但是DC電流可以找出更深、更隱蔽的缺陷，比如我們發(fā)現(xiàn)的這些夾雜物。
在一個(gè)水平實(shí)驗(yàn)室裝置上采用全波直流（FWDC）熒光濕式磁粉探傷
正如預(yù)期的那樣，在鍛造區(qū)域的缺陷很容易地被再次檢測(cè)到。同樣，在加工區(qū)域的多元線性?shī)A雜物痕跡更為明顯，較之于先前干式磁粉檢測(cè)，這個(gè)痕跡要更為稠密。
由于在實(shí)驗(yàn)室裝置上所進(jìn)行的兩次測(cè)試條件是完全相同的，因此我們認(rèn)為熒光濕式磁粉檢測(cè)所得到的結(jié)果要更為明顯，更突出了檢測(cè)區(qū)域的痕跡?？梢姽飧墒酱欧厶絺蜔晒鉂袷酱欧厶絺际峭ㄟ^(guò)在監(jiān)測(cè)工件表面覆蓋細(xì)氧化鐵顆粒并施加磁場(chǎng)進(jìn)行的，但其應(yīng)用和檢測(cè)的進(jìn)程不同。干式磁粉是用手涂敷并去除的，因此可能會(huì)發(fā)生一些人為的失誤，同時(shí)其結(jié)果是通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)白光觀察得到的。熒光法允許使用液池中更小的顆粒，從而使其更好地流入到較小的漏磁場(chǎng)中，同時(shí)，在一個(gè)黑暗的檢測(cè)區(qū)域進(jìn)行評(píng)估，其熒光的顏色可以提供更好的可見性指示。
由上可見，在不指定具體磁粉探傷操作方法時(shí)，熒光濕式磁粉探傷法的靈敏度要優(yōu)于可見光干式磁粉探傷法。熒光濕式磁粉探傷法有助于確保得到有關(guān)材料和產(chǎn)品可靠的檢測(cè)結(jié)果。如果需要使用可見光干式磁粉探傷，那么使用HWDC裝置同樣也是保證準(zhǔn)確檢測(cè)結(jié)果的好選擇。
上一篇：焊接缺陷檢測(cè)與無(wú)損探傷
下一篇：零件表面粗糙度測(cè)量重要性及對(duì)鍍覆質(zhì)量的影響