設(shè)備名稱

要求

出廠編號(hào)

采購(gòu)發(fā)票編號(hào)

一、常規(guī)檢測(cè)（CG）

1

射線檢測(cè)裝置

不少于8臺(tái)

其中管電壓大于或者等于300kV的X射線檢測(cè)裝置(或者γ射線機(jī))不少于2臺(tái)

2

射線報(bào)警儀

不少于6臺(tái)

3

底片烘干箱以及黑度計(jì)

底片烘干箱不少于1臺(tái)

黑度計(jì)(含標(biāo)準(zhǔn)黑度片)不少于1臺(tái)

4

暗室設(shè)施和膠片沖洗裝置

暗室設(shè)施不少于1套

膠片沖洗裝置不少于1套

5

觀片燈

亮度大于或者等于40000cd/m2不少于4臺(tái)

其中亮度大于或者等于80000cd/m2不少于1臺(tái)

6

曝光曲線制作裝置

不少于1套

7

數(shù)字式超聲波探傷儀

不少于5臺(tái)

8

超聲波測(cè)厚儀

不少于1臺(tái)

9

超聲波檢測(cè)試塊

CSK-ⅠA不少于1塊

CSK-ⅡA-1不少于1塊

CSK-ⅡA-2不少于1塊

CSK-ⅡA-3不少于1塊

GS-1不少于1塊

GS-2不少于1塊

GS-3不少于1塊

GS-4不少于1塊

階梯試塊不少于1塊

1號(hào)試塊不少于1塊

2號(hào)試塊不少于1塊

3號(hào)試塊不少于1塊

4號(hào)試塊不少于1塊

10

磁粉檢測(cè)儀

磁粉檢測(cè)儀不少于5臺(tái)

其中適用于棒狀和管狀部件檢測(cè)的不少于1臺(tái)

11

黑光燈

不少于1臺(tái)

12

照度計(jì)和輻照計(jì)

照度計(jì)不少于1臺(tái)

輻照計(jì)不少于1臺(tái)

13

磁懸液濃度沉淀管

不少于1個(gè)

14

磁粉檢測(cè)靈敏度標(biāo)準(zhǔn)試片(塊)

不少于1套

15

磁粉探傷儀自校裝置

45N重力塊不少于1塊

118N重力塊不少于1塊

磁場(chǎng)指示器不少于1臺(tái)

兆歐表不少于1臺(tái)

16

滲透檢測(cè)靈敏度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊

標(biāo)準(zhǔn)試塊不少于2塊

對(duì)比試塊不少于2塊

二、渦流檢測(cè)（ECT）

1

多頻渦流探傷儀

不少于2臺(tái)

2

渦流檢測(cè)靈敏度調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)試塊或者對(duì)比試塊

不少于1套

3

黑光燈

不少于1臺(tái)

4

照度計(jì)和輻照計(jì)

照度計(jì)不少于1臺(tái)

輻照計(jì)不少于1臺(tái)

5

滲透檢測(cè)靈敏度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊

標(biāo)準(zhǔn)試塊不少于2塊

對(duì)比試塊不少于2塊

三、聲發(fā)射檢測(cè)（AE）

1

16通道聲發(fā)射檢測(cè)儀

不少于1臺(tái)

2

聲發(fā)射靈敏度調(diào)試試塊和對(duì)比試塊

調(diào)試試塊不少于1套

對(duì)比試塊不少于1套

3

數(shù)字式超聲波探傷儀和超聲波檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊

數(shù)字式超聲波探傷儀不少于1臺(tái)

CSK-ⅠA不少于1塊

CSK-ⅡA-1不少于1塊

CSK-ⅡA-2不少于1塊

CSK-ⅡA-3不少于1塊

階梯試塊不少于1塊

1號(hào)試塊不少于1塊

2號(hào)試塊不少于1塊

3號(hào)試塊不少于1塊

4號(hào)試塊不少于1塊

四、衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)（TOFD）

1

雙通道衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)儀

不少于2臺(tái)

2

TOFD探頭

不同頻率且范圍在2.5MHz～10MHz的不少于3對(duì)

3

掃查裝置及相關(guān)附件

帶位置傳感器，且不少于1套

4

衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)規(guī)定的試塊

覆蓋12mm～100mm范圍的對(duì)比試塊不少于1套

覆蓋12mm～100mm范圍的模擬試塊不少于1套

5

數(shù)字式超聲波探傷儀和超聲波檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊

數(shù)字式超聲波探傷儀不少于1臺(tái)

CSK-ⅠA不少于1塊

CSK-ⅡA-1不少于1塊

CSK-ⅡA-2不少于1塊

CSK-ⅡA-3不少于1塊

階梯試塊不少于1塊

1號(hào)試塊不少于1塊

2號(hào)試塊不少于1塊

3號(hào)試塊不少于1塊

4號(hào)試塊不少于1塊

6

射線檢測(cè)裝置、射線報(bào)警儀、底片烘干箱、黑度計(jì)、暗室設(shè)施和膠片沖洗裝置、觀片燈和曝光曲線制作裝置

射線檢測(cè)裝置不少于1臺(tái)

射線報(bào)警儀不少于1臺(tái)

底片烘干箱不少于1臺(tái)

黑度計(jì)(含標(biāo)準(zhǔn)黑度片)不少于1臺(tái)

暗室設(shè)施和膠片沖洗裝置不少于1套

亮度大于或者等于40000cd/m2的觀片燈不少于1臺(tái)

曝光曲線制作裝置不少于1套

7

磁粉探傷機(jī)、磁懸液濃度沉淀管、磁粉檢測(cè)靈敏度標(biāo)準(zhǔn)試片(塊)、磁粉探傷儀自校裝置

磁粉探傷機(jī)不少于1臺(tái)

磁懸液濃度沉淀管不少于1個(gè)

磁粉檢測(cè)靈敏度標(biāo)準(zhǔn)試片(塊)不少于1套

45N重力塊不少于1塊

118N重力塊不少于1塊)

8

滲透檢測(cè)靈敏度測(cè)試塊

標(biāo)準(zhǔn)試塊不少于1套

對(duì)比試塊不少于1套

9

超聲波測(cè)厚儀、黑光燈、照度計(jì)、輻照計(jì)

超聲波測(cè)厚儀不少于1臺(tái)

黑光燈不少于1臺(tái)

照度計(jì)不少于1臺(tái)

輻照計(jì)不少于1臺(tái)

五、漏磁檢測(cè)（MFL）

1

智能腐蝕內(nèi)檢測(cè)器

不少于1臺(tái)

2

智能變形檢測(cè)器

不少于1臺(tái)

3

管道清管器

不少于1套

4

管道內(nèi)檢測(cè)試塊

靈敏度調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊各1套

5

內(nèi)檢測(cè)數(shù)據(jù)分析軟件

不少于1套

6

地面標(biāo)記模塊

不少于50個(gè)

7

管體腐蝕成像檢測(cè)儀

不少于1臺(tái)

8

外壁漏磁檢測(cè)儀

不少于1臺(tái)

9

超聲波測(cè)厚儀

不少于2臺(tái)

10

具有內(nèi)檢測(cè)器牽引試驗(yàn)條件

要求

11

數(shù)字式超聲波探傷儀和超聲波檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊

數(shù)字式超聲波探傷儀不少于1臺(tái)

CSK-ⅠA不少于1塊

CSK-ⅡA-1不少于1塊

CSK-ⅡA-2不少于1塊

CSK-ⅡA-3不少于1塊

階梯試塊不少于1塊

1號(hào)試塊不少于1塊

2號(hào)試塊不少于1塊

3號(hào)試塊不少于1塊

4號(hào)試塊不少于1塊