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　　磁粉探傷（Magneticparticleinspection，MPI）的操作方法多種多樣，而通常來說這些方法都要符合操作測試規(guī)范。在許多情況下，這些規(guī)范都不會太過死板，無損檢測人員在選擇執(zhí)行檢測方法時都會保留一定的可能性。但是，我們要明白并不是所有的方法都能達(dá)到相同的效果。正如下文所解釋的那樣，這些方法不僅在易用性和執(zhí)行時間上有差異，在對所能提供的測試結(jié)果細(xì)節(jié)的水平上也存在著一定的差距。
　　對于任何負(fù)責(zé)產(chǎn)品質(zhì)量的人員來說，安全性和可靠性是其首要考慮的因素，那么如果在磁粉探傷方法上要進(jìn)行取舍時，就一定會選擇能夠?qū)Ξa(chǎn)品提供可靠檢測結(jié)果的操作方法。
　　當(dāng)購買檢測材料時，你可能想要更進(jìn)一步了解到：
　　在測試工件上用于創(chuàng)建磁場的電流類型
　　用于執(zhí)行測試的介質(zhì)或顆粒類型
　　在本文中，我們對同一待測工件執(zhí)行了三種不同的磁粉探傷方法，同時對這三種方法進(jìn)行比較。
　　這三種方法都滿足基本規(guī)范要求并且能夠?qū)嶋H操作。它們分別是：

　　1，交流電（AC）磁軛可見光干式磁粉探傷
　　2，在一個水平實(shí)驗(yàn)室裝置上采用全波直流（FWDC）可見光干式磁粉探傷
　　3，在一個水平實(shí)驗(yàn)室裝置上采用全波直流（FWDC）熒光濕式磁粉探傷
　　由于在干式磁粉探傷法中使用的是散粉，因此相較于濕式熒光磁粉探傷，這個過程的工作量更大且所需時間更長。更重要的是，干式磁粉探傷法也沒有熒光磁粉探傷法敏感。
　　下面的例子是按照我們在實(shí)驗(yàn)室處理的實(shí)際順序給出的。按照要求我們對同一個工件使用以上提到的兩種不同的干式磁粉技術(shù)進(jìn)行檢測。雖然要求使用干式磁粉是很常見的，但是基于同一個工件使用兩種不同的干式磁粉探傷法進(jìn)行檢測的要求則不太常見。檢測結(jié)果使我們感到驚訝，隨后我們決定結(jié)合FWDC實(shí)驗(yàn)室裝置，使用熒光濕式磁粉技術(shù)對同一工件進(jìn)行檢測，結(jié)束后進(jìn)行結(jié)果的比較。
　　交流電（AC）磁軛可見光干式磁粉探傷
　　初次檢測的結(jié)果是：僅在測試工件的一個鍛造區(qū)域發(fā)現(xiàn)了一個較為明顯的表面缺陷（鍛造圈）。事實(shí)上這些缺陷較為嚴(yán)重，使用肉眼進(jìn)行目視檢測就能夠發(fā)現(xiàn)。在工件的加工區(qū)域我們沒有發(fā)現(xiàn)磁痕現(xiàn)象。

　　在一個水平實(shí)驗(yàn)室裝置上采用全波直流（FWDC）可見光干式磁粉探傷
　　這種檢測方式較為特殊，平時并不常用，所以我們首先關(guān)心的是保護(hù)熒光裝置，并盡可能保護(hù)可見顆粒免受污染。
　　說實(shí)話，我們并沒有預(yù)見到兩種方法在檢測結(jié)果上會有明顯的差異。我們確信之前觀察到的表面缺陷（鍛造圈）會再次被檢測到，除此之外我們還有了新發(fā)現(xiàn)：與鍛造區(qū)不同，工件的加工區(qū)域表現(xiàn)出了很好的質(zhì)量，而更出乎意料的是（這也是進(jìn)行無損檢測工作的一種樂趣），我們居然在整個測試工件的加工區(qū)域發(fā)現(xiàn)了夾雜物的多重線性痕跡。使用AC磁軛可見光干式磁粉技術(shù)并沒有發(fā)現(xiàn)這些痕跡，這可能對工件會存在潛在的傷害，具體主要取決于其應(yīng)用領(lǐng)域。
　　我們的結(jié)論是：由于在實(shí)驗(yàn)室裝置上使用了不同的電流，從而發(fā)現(xiàn)了更詳細(xì)的檢測結(jié)果，這是因?yàn)镈C電流比AC電流的穿透深度更深。盡管AC電流可以成功地檢測出表面缺陷，但是DC電流可以找出更深、更隱蔽的缺陷，比如我們發(fā)現(xiàn)的這些夾雜物。
　　在一個水平實(shí)驗(yàn)室裝置上采用全波直流（FWDC）熒光濕式磁粉探傷
　　正如預(yù)期的那樣，在鍛造區(qū)域的缺陷很容易地被再次檢測到。同樣，在加工區(qū)域的多元線性夾雜物痕跡更為明顯，較之于先前干式磁粉檢測，這個痕跡要更為稠密。
　　由于在實(shí)驗(yàn)室裝置上所進(jìn)行的兩次測試條件是完全相同的，因此我們認(rèn)為熒光濕式磁粉檢測所得到的結(jié)果要更為明顯，更突出了檢測區(qū)域的痕跡?？梢姽飧墒酱欧厶絺蜔晒鉂袷酱欧厶絺际峭ㄟ^在監(jiān)測工件表面覆蓋細(xì)氧化鐵顆粒并施加磁場進(jìn)行的，但其應(yīng)用和檢測的進(jìn)程不同。干式磁粉是用手涂敷并去除的，因此可能會發(fā)生一些人為的失誤，同時其結(jié)果是通過標(biāo)準(zhǔn)白光觀察得到的。熒光法允許使用液池中更小的顆粒，從而使其更好地流入到較小的漏磁場中，同時，在一個黑暗的檢測區(qū)域進(jìn)行評估，其熒光的顏色可以提供更好的可見性指示。
　　由上可見，在不指定具體磁粉探傷操作方法時，熒光濕式磁粉探傷法的靈敏度要優(yōu)于可見光干式磁粉探傷法。熒光濕式磁粉探傷法有助于確保得到有關(guān)材料和產(chǎn)品可靠的檢測結(jié)果。如果需要使用可見光干式磁粉探傷，那么使用HWDC裝置同樣也是保證準(zhǔn)確檢測結(jié)果的好選擇。