無損檢測(cè)業(yè)務(wù)咨詢
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X射線探傷儀的作用與工作原理發(fā)布時(shí)間：2020/12/19 點(diǎn)擊次數(shù)：1185 來源：蘇州阜匯機(jī)械制造 X射線探傷儀廣泛應(yīng)用于工業(yè)判斷工件合格與否。利用射線穿過物體時(shí)物體局部區(qū)域結(jié)構(gòu)差異從而改變物體對(duì)射線的衰減，然后檢測(cè)透射射線強(qiáng)度，判斷物體內(nèi)部的缺陷和物質(zhì)分布的儀器 。
X射線探傷儀的工作原理：
X射線探傷是利用X射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中具有衰減的特性，發(fā)現(xiàn)缺欠的一種無損檢測(cè)方法。X射線的波長(zhǎng)很短一般為0.001～0.1nm。X射線以光速直線傳播，不受電場(chǎng)和磁場(chǎng)的影響，可穿透物質(zhì)，在穿透過程中有衰減，能使膠片感光。
當(dāng)X射線穿透物質(zhì)時(shí)，由于射線與物質(zhì)的相互作用，將產(chǎn)生一系列極為復(fù)雜的物理過程，其結(jié)果使射線被吸收和散射而失去一部分能量，強(qiáng)度相應(yīng)減弱，這種現(xiàn)象稱之為射線的衰減。X射線探傷的實(shí)質(zhì)是根據(jù)被檢驗(yàn)工件與其內(nèi)部缺欠介質(zhì)對(duì)射線能量衰減程度不同，而引起射線透過工件后強(qiáng)度差異，使感光材料（膠片）上獲得缺欠投影所產(chǎn)生的潛影，經(jīng)過暗室處理后獲得缺欠影像，再對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定工件內(nèi)部缺欠的性質(zhì)和底片級(jí)別。
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